頻率元件的類別可分為多中類別,其中晶振就是其中一個類別,也即是石英晶體諧振器、陶瓷諧振器,石英晶體諧振元件和陶瓷諧振元件都是利用具有壓電效應(yīng)的晶體片而制成的諧振元件。這種壓電晶體片當(dāng)受到外加交變電場的作用時會產(chǎn)生機械振動，當(dāng)交變電場的頻率與壓電晶體片的固有頻率相同時，振動便變得十分強烈，這就是壓電晶體諧振特性的反映。

如何測量聲表面波振蕩器的相位噪聲

Rakon晶振集團SAW振蕩器在高于300MHz的頻率下表現(xiàn)出優(yōu)異的相位噪聲性能。

這種相位噪聲的測量不明顯。最常見的技術(shù)是使用PLL將被測振蕩器的相位噪聲與具有相似或優(yōu)越噪聲性能的參考振蕩器進行比較。倍增晶體振蕩器不是測量ULN SAW濾波器的合適參考振蕩器，因為在相同頻率下，它的噪聲基底通常大于SAW振蕩器的噪聲基底。

類似于被測SAW濾波器的SAW振蕩器是當(dāng)今最好的參考振蕩器。測量的相位噪聲是兩個晶體振蕩器(被測振蕩器和參考振蕩器)的相位噪聲的平方和。如果我們假設(shè)每個振蕩器的噪聲貢獻相等，那么DUT的相位噪聲是測量的相位噪聲減去3db。

試驗臺的殘余相位噪聲也可能主要在噪聲基底水平上影響測量的相位噪聲。這就是為什么測試臺制造商提出多通道測量和/或互相關(guān)技術(shù)，以消除由于測試臺的限制。

rakon在以下測試臺上進行了聲表面濾波器相位噪聲測量:

比較測量的主要結(jié)論如下:

最好的結(jié)果是使用DCNTS。對于每個通道和公共DUT(RF輸入)的LO，使用3個類似的ULN SO，雙通道測量和互相關(guān)技術(shù)完全消除了殘余噪聲和測試臺的限制(殘余噪聲基底大約為-195dBc/Hz)。測量的PN是被測器件的真實PN。leeson的模型完全符合測量結(jié)果。

PN9000可以被描述為DCNTS的一個信道。使用2個相似的ULN SO作為參考(LO)和DUT，顯示的PN是兩個振蕩器的PN+測試臺的剩余PN的平方和。噪聲基底的限制在-175dBc/Hz左右。每個石英晶體振蕩器的單獨PN不能直接實現(xiàn)。然而，它等于或優(yōu)于顯示的曲線。

e5052b不適合測量ULN SO的PN值。作為DUT，只需要1ULN SO，但是測試臺的內(nèi)部基準(從乘以XO得出)限制了相位噪聲測量在[2kHz-300kHz范圍內(nèi)的偏移，即使有10，000個相關(guān)(“過夜測量”)。繪制的相位噪聲僅代表DUT的近偏移或遠偏移的相位噪聲。對于[2kHz-300kHz范圍內(nèi)的偏移，顯示的PN是內(nèi)部參考的PN。

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