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遙遙領(lǐng)先希華石英晶體諧振器隱知識(shí)解析,晶振電路無信號(hào)輸出?
步驟1-1。請(qǐng)檢查SMD晶振輸入端(Xin)和輸出端(Xout)的電壓,并檢查電壓是否符合IC規(guī)范。
步驟1-2。請(qǐng)卸載晶體,并使用專業(yè)測試機(jī)器測試其頻率和負(fù)載電容,看看它們是否振動(dòng)并符合您的規(guī)格。您也可以將其發(fā)送給供應(yīng)商,讓他們?yōu)槟M(jìn)行測試。
步驟1-3。如果晶體不振動(dòng),其負(fù)載電容與您的規(guī)格不匹配,或者當(dāng)前頻率與您的目標(biāo)頻率之間存在巨大差距,請(qǐng)將晶體發(fā)送給您的供應(yīng)商進(jìn)行質(zhì)量分析。
步驟1-4。如果頻率和負(fù)載電容符合你的規(guī)格,但問題也存在。需要執(zhí)行振蕩電路評(píng)估。您也可以將其發(fā)送給供應(yīng)商,讓他們?yōu)槟M(jìn)行測試。
步驟1-5。下圖所示為一般振蕩電路,其中Cd和Cg為外部負(fù)載電容,Rf為反饋電阻,Rd為限流電阻。
負(fù)電阻(-R)是評(píng)價(jià)振蕩電路好壞的標(biāo)準(zhǔn),其值至少應(yīng)為晶振電阻的5倍,以維持穩(wěn)定的振蕩。因此,按照以下說明測量負(fù)電阻非常重要:
(1)將電阻(Rx)與晶體串聯(lián)
(2)從振蕩的起點(diǎn)到終點(diǎn)調(diào)整Rx的值。
(3)測量振蕩期間Rx的值。
(4)你將能夠獲得負(fù)電阻的值,|-R| = Rx + Re,Re =有效晶體電阻。
步驟1-6。如果IC的負(fù)電阻太低,無法驅(qū)動(dòng)電路,我們提出三種解決方案來改善這種情況。
(1)降低限制電阻器(Rd)的值。但是,您還應(yīng)該確認(rèn)頻移和晶體驅(qū)動(dòng)電流是否同時(shí)符合規(guī)格。
(2)降低外部電容(Cg和Cd)的值,采用負(fù)載電容(CL)較低的其他晶體。
(3)采用電阻(Rr)較低的晶體。遙遙領(lǐng)先希華石英晶體諧振器隱知識(shí)解析.